reis meting

Opgericht in 1943 door Oskar Uhl, staat de Walter Uhl technische microscopie GmbH & Co. KG al meer dan 80 jaar voor de hoogste kwaliteit en precisie in de fijnmechanica en optische meettechniek. Ons bedrijf, gevestigd in 35614 Asslar, Duitsland, heeft zich door voortdurende ontwikkeling en uitbreiding ontwikkeld tot een wereldwijde marktleider in de sector. Wij bieden een uitgebreid assortiment a...

... wordt aangeduid als de onafhankelijke lineariteitsfout. De helling en de snijpunt van deze rechte lijn kunnen zo worden gekozen dat de fout f binnen de reis L1 wordt geminimaliseerd. De fout ±f is aangegeven als een afwijking in procenten van de uitgangsspanning ten opzichte van de theoretische in relatie tot de ingangswaarde. Aangezien directe meting van de potentiometerkarakteristiek het niet...