afm systemen

...afm Staalprofielwand bestaande uit verzinkte en gefaseerde profielen, 60x15 mm. Staalprofiel Europees modelnummer 002281287-0001. afm Staalprofielwand bestaande uit verzinkte en gefaseerde profielen, 60x15 mm. De bevestiging van de staalprofielen aan de verzinkte staalhoek, 25x28 mm, gebeurt vanaf de binnenzijde van de keldercompartimenten. De afstand tussen de verticale profielen bedraagt...

... CONTROL-toepassingen (straalfocussering, versnelling en afbuiging van geladen deeltjes). De ontwikkeling van permanente magnetische veldbronnen voor gebruik met SPM-, STM-, AFM-systemen, evenals voor MRAM- en MRI/NMR-toepassingen, afgestemd op de specifieke eisen van de klant, is een ander veelbelovend gebied voor voordelige samenwerking.

... wijziging van objectieven Integratie met IR sSNOM (optioneel) Sinds 1998 integreert NTMDT met succes AFM met optische microscopie en spectroscopietechnieken. Meer dan 30 basis- en geavanceerde AFM-modi, waaronder HybriD ModeTM, worden ondersteund en bieden uitgebreide informatie over de fysische eigenschappen van het monsteroppervlak. De integratie van AFM met confocale Raman-/fluorescentiemicroscopie...

...Met de AFSEM-rasterkrachtmicroscoop (AFM) kunnen twee van de krachtigste oppervlakte-analysemethoden, AFM en REM, snel en eenvoudig met elkaar worden gecombineerd. Met slechts één correlatief systeem verkrijgt men een breed scala aan verschillende informatie over het te meten monster. De AFSEM-rasterkrachtmicroscoop is compatibel met de meeste REM- of REM/FIB-systemen en wordt direct in een bestaand REM geïmplementeerd. Alle REM-meetmethoden blijven daarbij behouden. AFSEM maakt gebruik van andere gangbare analysemethoden zoals FIB, FEBID en EDX.

... Detectiesysteem::CCD-sensor 2048x122 pixels, met Peltier-koeling of CCD-sensor 2048x122 met tweefasige koeling Opties::Verwarmings- en koelstages, vezeloptische sonde, EM-CCD-sensor voor ultieme Raman mapping snelheid Uitbreidingen::FLIM-optie is beschikbaar. Combinatie met AFM is mogelijk...

...Wij zijn gespecialiseerd in Stylus/Optische en Spanningsmeting, AFM-systemen, Probes en Accessoires, Asher/Plasma Reinigers, SEM Indenters, Miniatuur Trekproeven, Dikte Testers, Temperatuur/Vochtigheidscontrole, Trillings/Akoestische Oplossingen en Faradaykooien. In 2015 werden wij de vertegenwoordigers van het Verenigd Koninkrijk voor Electron Microscopy Sciences (EMS). EMS levert al 45 jaar...