Ntegra Nano Ir - AFM-Raman-Nano-IR Systemen

IR s‑SNOM-microscopie en spectroscopie met 10 nm ruimtelijke resolutie Breed spectraal bereik van werking 312 μm Incredibly lage thermische drift en hoge signaalstabiliteit Veelzijdige AFM met geavanceerde modi SRI (geleiding), KPFM (oppervlaktepotentiaal), SCM (capaciteit), MFM (magnetische eigenschappen), PFM (piezo-elektrische krachten) HybriD Mode™ kwantitatieve nanomechanische mapping Integratie met microRaman (optioneel) De mogelijkheid van s‑SNOM-metingen in het zichtbare spectrale bereik (optioneel) NTMDT Spectrum Instruments presenteert de NTEGRA Nano IR verstrooiingsscanning nabijveld optische microscoop (s‑SNOM) ontworpen voor het infrarood (IR) spectrale bereik. AFM-probe bevindt zich in de focus van het optische systeem dat de monsterstructuur opwekt met een IR-laser en de optische respons verzamelt. Het verzamelde licht wordt geleid naar een Michelson-interferometer voor optische analyse. Breed spectraal bereik van werking: 3-12 μm Lage ruis LN2 gekoelde MCT-detector: <30 nV/√Hz bij tikkende frequentie harmonischen (100 kHz – 1 MHz) Hoge prestaties lage ruis AFM: Z-ruis <0,05 nm (RMS in 10-1000 Hz bandbreedte) Stabiele AFM-prestaties bij hoge temperaturen: tot 150 °C met standaard verwarmingsstage Focus track functie: monster blijft altijd in focus dankzij monster Z-feedback