Vega - Geautomatiseerde AFM

Ultieme beeldkwaliteit met ingebouwde akoestische en vibratie-isolatie, actieve thermostabilisatie, de laagste sensorruis van 25 fm/√Hz voor optische straalafbuiging en het unieke ontwerp van het scannen met een puntensysteem maken routinematige hoge-resolutie beeldvorming mogelijk. Uitgerust met 50+ AFM-modi, inclusief HybriD-modus, zijn alle geavanceerde nanomechanische, elektrische en magnetische studies beschikbaar in de basisconfiguratie. Geautomatiseerde studie van monsters in arrays volgens door de gebruiker gedefinieerde scenario's met database-afbeeldingsopslag. Inspectie van monsters tot 200×200 mm en 40 mm hoog op elk punt met een positioneringsnauwkeurigheid van 1 μm. Smart ScanT™ software voor éénklikoptimalisatie van scanparameters. Dit is niet zomaar een algoritme, het is eerder een unieke metgezel die nieuwkomers in AFM helpt om beelden van industriële kwaliteit te verkrijgen en de experts ondersteunt. Brede mogelijkheden voor maatwerk en integratie van aanvullende optische apparatuur. Type: buis scanner met gesloten lus sensoren. Scannen met een punt. Scanning bereik, XYZ: 100×100×10 µm of 2×2×1 µm in Lage Spanning Modus. Tip-Monster Positioneringstype: gemotoriseerde monsterpositionering in XYZ. XYZ thermische drift: Minder dan 0,2 nm/min. Bewegingsbereik: 200×200 mm in XY, 30 mm in Z. Positioneringsnauwkeurigheid: 1 µm in XY, 0,2 µm in Z. Positioneringssnelheid: 8 mm/sec in XY. Benadering: slimme zachte benaderingsalgoritme. Optische straalafbuigingssensorruis: <25 fm/√Hz boven 50 kHz. Resolutie: 0,98 μm. Gezichtsveld: tot 1,2×0,8 mm (5 Mpixel). Autofocus: op cantilever, op monster. AFM-probes: probehouder ondersteunt de meeste commercieel beschikbare probes. Aantal scan kanalen: tot 24. Signaalverwerking: 512 Mb buffer grootte, 3x 340 MHz FPGA, 320 MHz DSP. Lock-in versterkers: 2x analoge lock-in versterkers, 3x digitale lock-in versterkers (ondersteuning voor multifrequentie AFM-modi). Generators: 6x 32 bit digitale generators, 4x voor Lock-in. Zelftest: geautomatiseerde prestatiecontrole. Automatische aanpassing van scanparameters: aandrijvingsamplitude, lock-in versterking, setpoint, feedbackversterking, scansnelheid. Programmeerhulpmiddelen: Nova PowerScript-taal, LabView-integratie, database-integratie. PC-interface: USB. Temperatuurstabilisatie: ingebouwde ventilatorvrije thermische stabilisatie met 0,05 °C nauwkeurigheid. Akoestische isolatie: ingebouwde akoestische behuizing. Vibratie-isolatie: ingebouwde actieve vibratie-isolatietafel. Nanolithografie: Spanning, Stroom, Kracht (Alle Vector en Raster). Spectroscopie: Kracht-, Amplitude-, Fase-, Frequentie-, Stroom-Distance, I(V), Piezopulse, Aangepaste modus. Afmetingen: B×L×H; 810×610×1450 mm.