Ntegra Spectra II - AFM-Raman-Nano-IR Systemen

Hoge prestaties veelzijdige AFM Optische toegang van boven, zijkant en onder, geoptimaliseerd voor Raman, TERS en SNOM Flexibel optisch ontwerp dat elke combinatie van excitatie-/verzamelconfiguraties biedt Geautomatiseerde AFM-laser-, sonde- en fotodiode-alignment Gebruiksvriendelijke wijziging van golflengte van de AFM-registratiesysteemlaser en fotodiode Eenvoudige en gebruiksvriendelijke wijziging van objectieven Integratie met IR sSNOM (optioneel) Sinds 1998 integreert NTMDT met succes AFM met optische microscopie en spectroscopietechnieken. Meer dan 30 basis- en geavanceerde AFM-modi, waaronder HybriD ModeTM, worden ondersteund en bieden uitgebreide informatie over de fysische eigenschappen van het monsteroppervlak. De integratie van AFM met confocale Raman-/fluorescentiemicroscopie biedt het breedste scala aan aanvullende informatie over het monster. Gelijktijdig gemeten AFM- en Raman-kaarten van exact hetzelfde monstergebied bieden complementaire informatie over de fysische eigenschappen van het monster (AFM) en de chemische samenstelling (Raman). Diffractie-beperkte ruimtelijke resolutie:<200 nm in XY, <500 nm in Z (met immersie-objectief) Hoge prestaties lage ruis AFM: Z-ruis<0.1 nm (RMS in 10‑1000 Hz bandbreedte) Echelle-rooster met ultrahoge dispersie; spectrale resolutie:0.007nm (< 0.1 cm‑1) Lage golflengte/THz Raman-spectroscopie:<10 cm-1 met Bragg-volume-filters Vervangbare objectieven met kinematische mounts: precisie <2 µm Dual scan: scannen door monster EN scannen door laserpunt (voor Hot Spot mapping in TERS) Alle bestaande TERS-geometrieën zijn beschikbaar: verlichting/verzameling van onder, van boven of van de zijkant