Hd Piezoresponse Krachtmicroscopie - Kenmerken

In de HD Piezoresponse Force Microscopy-modus (HD PFM) wordt een wisselspanning toegepast op de geleidende AFM-kantilever wanneer de punt in contact komt met het monster tijdens elke snelle kracht-spectroscopiecyclus. De toegepaste wisselspanning veroorzaakt mechanische oscillaties van het piezo-elektrische (ferro-elektrische) monster. De bijbehorende verticale en laterale bewegingen van de AFM-punt worden geregistreerd en verwerkt om de amplitude en fase te verkrijgen die respectievelijk de lokale piezo-elektrische coëfficiënt en de lokale polarisatierichting karakteriseren. Aangezien de AFM-punt zich bij elk scanpunt van het oppervlak terugtrekt, is de laterale interactiekracht tussen de punt en het monster aanzienlijk verminderd in vergelijking met de conventionele contact PFM-techniek. Dit biedt nieuwe mogelijkheden voor piezoresponsstudies van zachte, losse en fragiele objecten zoals biologische monsters, nanodeeltjes, enz. Bovendien kan een AFM-kantilever met een hogere stijfheid en resonantiefrequentie worden gebruikt.