Leica EM TIC 3X

Leica EM TIC 3X

Het drievoudige ionenstraaletsysteem Leica EM TIC 3X maakt het mogelijk om dwarsdoorsneden en vlakke oppervlakken te creëren voor rasterelektronenmicroscopie (Scanning Electron Microscopy - SEM), microstructuuranalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) en AFM-onderzoeken. Met de Leica EM TIC 3X produceert u bij kamertemperatuur of bij bevroren monsters hoogwaardige oppervlakken uit bijna elk materiaal, zodat de interne structuren zoveel mogelijk in hun oorspronkelijke staat behouden blijven.

De europages app is er!

Gebruik onze verbeterde zoekfunctie voor leveranciers of maak onderweg uw aanvragen met de nieuwe europages-app voor kopers.

Downloaden in de App Store

App StoreGoogle Play