... aanbieden. In deze lijn vindt u onder andere oplossingen voor:
• Voorbereiding van metallografische monsters en een breed scala aan malen
• Microscopie: tafel-SEM, tafel-FEG, optische microscoop
• Elementaire analyse: XRF, OES, CS/ONH en massaspectrometer
• Trek-, druk- en buigproeven
• Ruwheidsmeting: profielmeter, ruwheidsmeter en meetinstrument voor circulariteit
• Hardheidstests: Rockwell...