Ntegra Marlin - Kenmerken

AFMSICMRaman driedubbele synergie van krachtige nanocharacterisatietechnieken Hopping mode iongeleidingsmicroscopie niet-contact beeldvorming van levende cellen en jellyoppervlakken QNM-kracht van AFM en SICM kwantitatieve nanomechanische studies Slimme Patch Clamp automatische nanopipette-targeting voor ionkanaalstudies Hoge snelheid Lange afstand Hoge resolutie mapping op nanoschaal Nanoinjectie nanopipetten met SICM feedbackcontrole kunnen worden gebruikt voor lokale subpicoliter injecties naar enkele cellen SICM (Scanning Ion Conductance Microscopy) is een SPM-techniek die gebruikmaakt van een nanopipette (scherpe glazen elektrode) voor niet-contact 3D-oppervlakte mapping met hoge resolutie. In SICM wordt de afstand van de sonde tot het monster gecontroleerd via de afname van de ionische stroom die door de punt stroomt, terwijl deze de monsteroppervlakte nadert. Biophys.Journ. 73, 653658 Positiecontrole: capacitive gesloten-lus sensoren op X,Y,Z-assen XY reisbereik: 30×30 μm (optioneel tot 100×100 μm) Z reisbereik: 25 μm Z positie nauwkeurigheid: 0.1 nm Toepassingen: SICM (Hopping mode), SECM, Slimme Patch-Clamp, Microinjectie, QNM, pH mapping Typische beeldverwervingstijd: minder dan 5 minuten (afhankelijk van het aantal punten en monster ruwheid) Hoge prestaties lage ruis AFM: Z-ruis <0.1 nm (RMS in 10-1000 Hz bandbreedte) AFM Toepassingen: alle standaard AFM beeldvormingsmodi (40+), Kracht-afstand spectroscopie Diffractie-beperkte ruimtelijke resolutie: <200 nm in XY, <500 nm in Z (met onderdompelingsobjectief) Echelle rooster met ultrahoge dispersie; spectrale resolutie: 0.007 nm (<0.1 cm-1) De hoogst mogelijke resolutie-optiek wordt gelijktijdig gebruikt met AFM/SICM: tot 1.45 NA Dubbele scan: scannen door monster EN scannen door laserpunt (voor Hot Spot mapping in TERS)