Multifunctioneel Test Systeem CATE-256FI

Het testsysteem CATE-256FI is ontworpen voor de functionele test en in-circuit test (MDA) van elektronische boards, systeemeenheden en mechatronische proefstukken. De opbouw is gebaseerd op NI PXI-modules, die individueel worden geconfigureerd op basis van de applicatie-eisen. Door de modulaire opbouw kunnen snel en kosteneffectief uitbreidingen worden gerealiseerd. Het systeem is beschikbaar als standalone of als inline versie. Basisconfiguratie: • 19” Rack, 50HE, IP55 • 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot • PXI - RT Embedded Controller • PPSU Programmeerbare Spanningsbron • PSU Vaste Spanningsbron • PXI – DMM met 7½ cijfers • PXI – Functiegenerator • PXI – Analoge kaart • PXI – Digitale I/O parallel • PXI – Relay-Matrix • PXI – Relay 4x1 MUX • G12 Virginia Panel Proefstukinterface High Level Applicaties: Bij een geschikte configuratie kan het testsysteem ook in de luchtvaarttechniek worden ingezet en voldoet het zo aan de hoogste eisen.